Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n > 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten

Mikrofiche-Ausg.
Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob...
Martin Opitz, Martin Opitz
Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n > 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten by Martin Opitz, Martin Opitz
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November 28, 2023 | History

Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n > 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten

Mikrofiche-Ausg.

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Publish Date
Publisher
[s.n.]
Language
German
Pages
280

Book Details


Edition Notes

Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x.

Thesis (doctoral)--Universität Hannover, 1995.

Published in
[s.l.]

The Physical Object

Pagination
VI, 280 Bl.
Number of pages
280

Edition Identifiers

Open Library
OL50012306M
OCLC/WorldCat
75690625

Work Identifiers

Work ID
OL37056982W

Source records

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