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MARC Record from harvard_bibliographic_metadata

Record ID harvard_bibliographic_metadata/ab.bib.11.20150123.full.mrc:580626716:886
Source harvard_bibliographic_metadata
Download Link /show-records/harvard_bibliographic_metadata/ab.bib.11.20150123.full.mrc:580626716:886?format=raw

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015 $aGFR-DNB-94,P07
016 7 $a458561142$2GyFmDB
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040 $aGWDNB$bger$cGWDNB$erakwb$dCRL$dMH
100 1 $aWagemann, Hans-Günther.
245 10 $aUntersuchung der Wirkung ionisierender Strahlung auf thermisch oxidierte Silizium-Oberflächen mit Hilfe des Feldeffektes /$cH. G. Wagemann.
260 $aBerlin-Wannsee :$bHahn-Meitner-Inst. f. Kernforschung, Sektor Elektronik,$c1969.
300 $a137 p. ;$c4.
490 0 $aBerichte des Hahn-Meitner-Instituts ;$vB 90 : Sektor Elektronik ; BEW21.
502 $aThesis (doctoral)--Technische Universität Berlin, 1969.
710 2 $aTechnische Universität Berlin.
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906 $0OCLC